Ruční přístroje DELTASCOPE pracují na principu magnetické indukce a umožňují měřit např. vrstvy zinku, cínu, chrómu, mědi, laků a plastů na oceli nebo železe.
Přístroje rady ISOSCOPE pracují na principu vířivých proudů a lze s nimi měřit vrstvy eloxu, barev, laků a plastů na hliníku, mědi a dalších barevných kovech.
Přístroje DUALSCOPE jsou universální a využívají obou měřících metod předchozích. Ruční přístroje jsou napájeny z baterie, akumulátoru, nebo adaptérem. Naměřená hodnota a další parametry se zobrazují na velkém LCD displeji.
![]() |
|
![]() |
|
![]() |
PRO MĚŘENÍ DUPLEXNÍCH VRSTEV PHASCOPE PMP10 DUPLEX se sondou ESG20
Vlastnosti přístroje:
|
měření vrstev niklu na železe a oceli nebo nemagnetických kovových vrstev:
přenosný přístroj pro zjišťování pórovitosti materiálů:
přenosný přístroj pro měření elektrické vodivosti neželezných kovů:
Různé aplikace požadují různé měřící metody.
kombinuje tyto metody v jednom měřícím systému. Použitím příslušné modulové karty vytvoříte systém na požadované měřící úlohy
umožňuje měření tvrdosti povrchových vrstev materiálů s informacemi
o dalších fyzikálních vlastnostech vrstvy a základního materiálu
Měření tloušťky vrstev a analýzu materiálů.
Ať měříte tloušťku vrstev nebo provádíte analýzu materiálů - FISCHER Vám
nabídne ideální přístroje pro většinu aplikací.
Již více než 20 let zde probíhají průkopnické práce a neustálý vývoj
přístrojů řady FISCHERSCOPE® X-RAY. Důkazem je značný počet patentů,
jako např. autozaměřovací
systém a průhledný kolimátor.
Tyto měřící přístroje řídí software WinFTM®. Software se snadnou obsluhou
nastavuje měřítko přizpůsobivosti a přesnosti.
Také vy můžete využít naše zkušenosti.
Metoda rentgenové fluorescence (EDXRF) je všestranná technologie pro rychlou, nedestruktivní kvalitativní a kvantitativní analýzu materiálů a měření tlouštěk vrstev. Může být použita pro široké spektrum typů vzorků.
Záření z rentgenové trubice stimuluje vzorek k vysílání rentgenového fluorescenčního záření, které je pro každý prvek charakteristické. Detektor zaznamenává spektrum energie.
Prvky obsažené ve vzorku je možné rozpoznat díky charakteristické energii vrcholů spektra. Koncentrace prvků jsou určeny intenzitou jejich záření.
U vrstev je souvztažnost mezi vyhledávanými vrstvami popř. jejich složením často velmi komplikovaná, ale díky softwaru WinFTM® se dají řešit všechny fyzikálně smysluplné úlohy.
Díky důvtipnému technickému vybavení a nepřekonatelnému softwaru WinFTM®, však uživatel nepotřebuje zvláštní znalosti o těchto složitých procedurách.
Díky velkému rozsahu prokazatelných prvků od hliníku po uran, sahá použití rentgenových přístrojů od oblasti průmyslu a rozvoje až po výzkum a vědu, bez ohledu na to, zda se jedná o měřicí úlohy v hutnictví, geologii, u kriminalistických technik nebo jiné analytické úlohy.
Rozměry a stav vzorků mohou být libovolné. Za použití vysoce vyvinutého softwaru WinFTM® V.6 je možné analyzovat složené systémy vrstev dokonce až 24 prvků
Institut pro elektroniku a měřicí techniku Helmut FISCHER Sindelfingen vyvíjí
a vyrábí již více než 50 let kvalitní přístroje pro měření tlouštěk vrstev,
analýzu materiálů a všeobecné zkoušení materiálů.
Nároční uživatelé z celého světa řadí přístroje
Spolupracovníci Fischer Group shromáždili řadu cenných zkušeností a proto jsou schopni vyvinout pro Vaši firmu to nejlepší řešení.
je osvědčený, řídící program pro snadné ovládání přístrojů FISCHERSCOPE® X-RAY. Používá se na měření tlouštěk vrstev a analýzu materiálů.
WinFTM® znamená Fischer Thickness Measurement System for Windows (Systém na měření tloušťky Fischer pro Windows®)
Zatímco WinFTM® V.3 je již schopen optimálně řešit většinu typických aplikací zákazníka, je WinFTM® V.6 navržen pro obzvláště obtížné měřicí aplikace.
je nejnovější generace softwaru s mnoha rozšířenými funkcemi pro uživatele, kteří mají speciální požadavky.
Program nabízí velmi vysoký stupeň přizpůsobivosti při definování měřicích aplikací (Def.MA). Pozoruhodná je také schopnost měřit až 24 prvků ve vícenásobném systému vrstev.
Stručně řečeno:
Více vrstev! Více prvků! Větší citlivost!
![]() |
![]() |
Spektrum vzorku s překrývajícími se prvky, údaji analýzy a barevným
videoobrázkem. |
Dialogové okno pro nastavení Def.MA pro měření na desce tištěných spojů. |
![]() |
Rozdělení tlouštěk vrstev Au na svazku desky tištěných spojů. |
*) Vyžaduje programové vybavení WinFTM -SUPER
Tento přístroj se vyznačuje možností vysoce přesného pozicování měřeného místa pomocí programovatelného XY pracovního stolu s motorizovanou rentgenovou hlavou (osa Z). Měření je vyhodnocováno v kombinaci s polovodičovým detektorem (emisním čitačem). Jeho vysoké energetické rozlišení mu dovoluje poskytnout spolehlivý výsledek analýzy a měření tloušťky vrstev ve velmi krátké měřící době.
Díky směru rentgenového záření shora dolů (?), mohou být velmi dobře měřeny a analyzovány také poměrně velké díly.
Automatické, optické zaostřování zlepšuje reprodukovatelnost měření.
![]() |
![]() |
![]() |
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN
Vysoce výkonný spektrometr za pozoruhodně nízkou cenu. Díky vysoce energetickému rozlišení polovodičového detektoru, XAN poskytuje spolehlivé analýzy a měření tloušťky vrstvy ve velmi krátké době.
Díky směru rentgenového záření zdola(?) nahoru, mohou být vzorky umístněny rychle a jednoduše.
Čtyři motoricky nastavitelné kolimátory pracují s měřícím bodem, který je vždy optimálně zaměřen pro danou měřící aplikaci.
![]() |
![]() |
![]() |
Pokud chceme měřit ty nejmenší plochy na miniaturních součástkách, naším řešením je XDVM -µ. S jeho novým patentovaným zrcadlovým systémem paprskové optiky, tento přístroj může vytvořit velmi malé zkušební body s vysokou intenzitou ionizujícího záření. Tímto způsobem můžeme změřit velmi malé díly s přesností až na desetiny mikrometru.
![]() |
![]() |
![]() |
FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®–W
XDVM® –W ulehčuje používání metody rentgenové fluorescence a činí ji velmi všestrannou. Vysoce přesný stupeň měření umožňuje automatizované měření těch nejmenších dílů .
Ideální pro měření velkého množství šroubků, kontaktních pásků, základních desek (tzv.paletové měření)
![]() |
![]() |
![]() |
Praktické, velmi rozšířené, uživatelsky oblíbené, levné přístroje v obzvlášť ekonomickém designu.
Velká měřící komora umožňuje měření i velkých vzorků s nepravidelnými tvary.
Metoda DCM (Distance Controlled Measurement – kontrola měřené vzdálenosti) umožňuje automatické nastavení měřící vzdálenosti rentgenové hlavy od měřeného dílu. Velké desky tištěných spojů mohou být umístěny za použití slotu mezi krytem měřící hlavy a měřícím stolem.
Modely FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM®–C4 jsou standardně vybaveny čtyřmi softwarově měnitelnými kolimátory.
![]() |
![]() |
![]() |
Rentgenová trubice a detektor jsou umístněny pod měřenou komorou. Umístění je stejné jako bylo u velmi úspěšných předchůdců modelových řad X-RAY 1000/1010/1020.
Směr rentgenového záření je zdola nahoru (?), což je velmi praktické pro řadu měřících aplikací.
Tento způsob významně zjednodušuje ustavení měřených součástí do měřící komory. Uložení měřeného vzorku je tedy provedeno okamžitě a měření mohou začít bez zaostřování měřeného místa.
![]() |
![]() |
![]() |
|
![]() XAN |
![]() XDAL |
|
Typ
(XRF = rentgenová fluorescence) |
XRF-Spektrometr s vysokým energetickým rozlišením a vynikajícím poměrem cena/výkon |
XRF-Spektrometr s vysokým energetickým rozlišením a programovatelným stolem XYZ |
XRF analyzátor tlouštěk vrstev s inovovaným mikrofokusem pro velmi malá měřící
místa |
Hlavní oblast použití | Analýza materiálů a měření tlouštěk vrstev v rozsahu prvků Z = 13 (Al) do Z =
92 (U).
Analýza zlata, šperky, laboratorní analytika, velmi tenké vrstvy, solární články,
analýzy roztoků, prášky |
Analýzy materiálů a měření tlouštěk vrstev v rozsahu prvků Z = 13 (Al) do Z =
92 (U).
Analýza zlata, šperky, laboratorní analytika, velmi tenké vrstvy, solární články,
analýzy roztoků, prášky |
Analýza materiálů a měření tlouštěk vrstev v rozsahu prvků Z = 17 (Cl) do Z =
92 (U).
Měření základních desek, lead frame s extrémně malou strukturou, rastrové snímání
(profily povrchů) např. pláště hadr disků, jemné drátky |
Nejdůležitější údaje o produktu | Velmi jednoduše a rychle: manuální umístění vzorku.
Vždy optimálně vysoká intensita signálu diky sadě kolimátorů. |
Velmi přesný, programovatelný XYZ stůl s velkým pojezdem.
Velká měřící komora |
Velmi přesný, programovatelný XYZ stůl s velkým pojezdem.
Revoluční rentgenová optika s velmi malým měřícím bodem pro vysokou intenzitu
záření. |
Standardní software (1) |
WinFTM V.6, PDM standard |
WinFTM V.6, PDM standard |
WinFTM V.6, PDM standard |
Směr měření |
Primární záření zespodu nahoru |
Primární záření shora dolů |
Primární záření shora dolů |
Rentgenová trubice |
Wolframová trubice s mikrofokusem a Be filtrem. Možnost dodání 2 primárních filtrů
(Ni a Al).
Programovatelná funkce šetření energie. |
Wolframová trubice s mikrofokusem a Be filtrem. Možnost dodání 2 primárních filtrů
(Ni a Al).
Programovatelná funkce šetření energie. |
Wolframová trubice s mikrofokusem a Be filtrem. Může být dodán 1 primární přídavný
filtr (Ni) |
Kolimátory |
4 kulaté kolimátory s průměry 0,2 mm / 0,6 mm / 1 mm / 2 mm.
Řízené softwarem, motoricky nastavitelné. |
4 kolimátory s rozměry:
čtvercový: 0,2x0,2 mm a 0,3x0,3 mm, kulatý:ø 0,6 mm obdelníkový: 0,15x0,5 mm |
|
Minimální rozměr
měřícího bodu |
Ø 0,3 mm |
0,2x0,62 mm | 0,02 mm x 0,05 mm |
Rozsah zaostření (2) |
2 mm |
4 mm | 2,5 mm |
Detektor |
PIN polovodičová dioda s vysokým energetickým rozlišením. |
PIN polovodičová dioda s vysokým energetickým rozlišením. |
Xenonem naplněná čítací trubice s vysokou frekvencí. |
Měřící stůl |
Pevný stůl popř. manuální XY stůl.
Uložení vzorků: vyměnitelná podložka, která je překryta průhlednou obnovitelnou
fólií. Tím je umožněn volný průchod záření. |
Polohovatelný a programovatelný, motorický stůl, v ose XY ovládaný joystickem
nebo myší.
Laserový světelný bod k upřesnění pozice. |
Polohovatelný a programovatelný, motorický stůl, v ose XY ovládaný joystickem
nebo myší.
Laserový světelný bod k upřesnění pozice. |
Pozicování vzorku | Vzorek se pokládá přímo na měřící stůl a manuálně se pozicuje pomocí videokamery. | Měřící stůl se automaticky vysune po otevření krytu. Přesné umísťování za použití
joysticku nebo myši. |
Měřící stůl se automaticky vysune po otevření krytu. Přesné umísťování za použití joysticku nebo myši. |
Programovatelné
XY-souřadnice |
Žádné programovatelné souřadnice |
256 mm x 230 mm
v max. = 25 mm/s Přesnost = 0,01 mm |
250 mm x 220 mm
v max. = 25 mm/s Přesnost = 0,005 mm |
Osa Z |
Žádná osa Z, avšak možnost optického zaostření až do výšky 2 mm. |
Programovatelná jednotka detektoru s motorickým pojezdem | Programovatelná jednotka detektoru s motorickým pojezdem. |
Vnitřní rozměry [mm] |
šířka = 320, hloubka = 460,
výška = 90 |
šířka = 460, hloubka = 500, výška = 146 |
šířka = 560, hloubka = 530, výška = 130 |
Měřící komora |
Velká komora s pevnou, výměnnou podložkou. | Štěrbinové provedení pro velké ploché součástky, které by se jinak nevešly do
měřícího prostoru. |
Štěrbinové provedení pro velké ploché součástky, které by se jinak nevešly do měřícího prostoru. |
Zaostření /měř. bod |
Použitím otáčivého knoflíku vizuální zaostření |
Autofokus popř. vizuální zaostření. |
Autofokus popř. vizuální zaostření. |
Zvětšení
( pro 19“ monitor) (3) |
Optické: 34-46x
Digitální: v krocích 1,2,3 a 4x Celkem: 34-184x |
Optické: 20-45x
Digitální: v krocích 1,2,3 a 4x Celkem: 20-180x |
Optické: 30/92/277x
Digitální: v krocích 1,2,3, a 4x Celkem: 30-1108x |
![]() XDVM–W |
![]() XDL, XDLM |
![]() XDL-B, XDLM-C4 |
Univerzální XRF analyzátor tlouštěk vrstev s přesným programovatelným
stolem XY. Špičkový stroj pro uživatele s vysokými nároky. |
XRF analyzátor tlouštěk vrstev s jednoduchým ovládáním a vynikajícím poměrem cena/výkon. | XRF analyzátor tlouštěk vrstev s jednoduchým ovládáním a různými možnostmi měření. |
Analýza materiálů a měření tlouštěk vrstev v rozsahu prvků Z
= 17 (Cl) do Z = 92 (U).
Kontakty konektorů, desky tištěných spojů, rychlejší skenování (profily povrchů) vrstev s velmi malými měřícími body, jemné drátky. |
XUL: Mnohoprvkové díly s rozdílným tvarem, jednotlivá měření s nenáročným pozicováním
vzorků.
XULM: Vhodný pro měření tvarově jednoduchých součástí: jemné vodiče, dráty, lead
frame. |
Všechna odvětví. Manuální a automatizované měření. Nejuniverzálnější a nejprodávanější
XRF přístroj.
Mnohoprvkové díly s rozdílným tvarem, také větší součástky s měřící výškou do
80 mm. |
Vysoce přesný, programovatelný XYZ stůl s velkým pojezdem.
Velmi malý měřící bod, značně zvětšující optika, velká měřící komora, velmi rychlý
pojezd stolu. |
Manuální měřící stůl pro rychlé a jednoduché umístění vzorků.
Kompaktní design. Volitelný Co-absorbér. |
Měřící stůl s manuálním nebo motorickým programovatelným posuvem.
Verze XDLM C4 se čtyřmi koliminátory (kruhové a štěrbinové). Volitelný Co-absorbér. |
WinFTM V.3, možnost PDM. |
WinFTM V.3, možnost PDM. |
WinFTM V.3, možnost PDM. |
Primární záření shora dolů | Primární záření zespodu nahoru | Primární záření shora dolů |
Wolframová trubice s mikrofokusem a Be filtrem. Může být dodán
1 primární přídavný filtr (Ni) |
XULM: Wolframová trubice s mikrofokusem, XUL: Wolframová trubice s Be - filtrem.
Mohou být dodány 2 primární filtry (Ni a Al). |
XDLM –C4: Wolframová trubice s mikrofokusem,
XDL –B: Wolframová trubice. Oba mají Be - filtr. Mohou být dodány 2 primární filtry (Ni a Al). |
Čtyři vyměnitelné kolimátory od 0,03 mm do 0,2 mm. |
XUL: samostatný kolimátor o průměru 0,3 mm nebo volitelný 0,05 x 0,3 mm.
XULM: motorizovaný 4x kolimátor o průměru 0,1 / 0,2 / 0,3/ štěrbinový 0,05 x
0,3 mm. |
XDL –B: samostatný kolimátor o průměru 0,3 mm nebo volitelný 0,05 x 0,3 mm. XDLM
– C4: mot. 4x koliminátor o průměru 0,1 / 0,2 / 0,3/ štěrbinový 0,05 x
0,3 mm. |
0,07 mm x 0,27 mm |
XUL: průměr 0,51 mm
XULM: průměr 0,15 mm |
XDL –B: 0,34 x 0,67 mm
XDLM –C4: 0,10 x 0,44 mm |
5; 29; 61; 93 mm |
27,5 mm | 80 mm |
Xenonem naplněná čítací trubice s vysokou frekvencí. |
Xenonem naplněná čítací trubice s vysokou frekvencí. |
Xenonem naplněná čítací trubice s vysokou frekvencí. |
Polohovatelný a programovatelný, motorický stůl, v ose XY ovládaný
joystickem nebo myší.
Laserový světelný bod k upřesnění pozice. |
Pevný nebo manuální XY – stůl |
Polohovatelný a programovatelný, motorický stůl nebo manuální.
Laserový světelný bod k upřesnění pozice. |
Možnost přídavné rychlé Y osy, ideální pro časté vzorkování.
Přesné umísťování za použití joysticku nebo myši (Ukaž a Změř). |
Vzorek se pokládá přímo na měřící stůl a pozicuje se manuálně pomocí videokamery
– záměrného kříže.
Volitelný manuální XY stupeň. |
Motorizované verze: měřící stůl vyjede automaticky při otevření krytu. Přesné
pozicování za použití joysticku nebo myši (Ukaž a Změř). |
250 mm x 250 mm, v max. = 25 mm/s.
Přídavná osa pro čtyřnásobnou rychlost měřícího stolu. Přesnost 0,005 mm |
Žádné programovatelné souřadnice. |
256 x 230 mm
v max. = 25 mm/s Přesnost = 0,01 mm |
Programovatelná jednotka s motorickým pojezdem. |
Žádná osa Z, avšak možnost optického zaostření až do výšky 27,5 mm. |
Dodává se verze s pevnou, motorizovanou nebo programovatelnou Z-osou. |
šířka = 560, hloubka = 530, výška = 145 |
šířka = 360, hloubka = 380, výška = 240 |
šířka = 460, hloubka = 500, výška = 300 |
Štěrbinové provedení pro velké ploché součástky, které by se
jinak nevešly do měřícího prostoru. |
Velká komora s pevnou, výměnou podložkou | Štěrbinové provedení pro velké ploché součástky, které by se jinak nevešly do měřícího prostoru. |
Autofokus popř. vizuální zaostření. |
Použitím otáčivého knoflíku vizuální zaostření |
Autofokus popř. vizuální zaostření. |
Optické: 40 – 142x
Digitální: v krocích 1,2,3 a 4x Celkem: 40 – 568x |
Optické: 38 – 46x
Digitální: v krocích 1,2,3 a 4x Celkem: 38 – 184x |
Optické: 20 – 45x
Digitální: v krocích 1,2,3 a 4x Celkem: 20 – 180x |
© Prominent, s.r.o., 2007 - 2025W3C XHTML 1.0 Transitional Design © 2025 JTV CZ AAA Mitutoyo Prominent SESTERSKÉ STRÁNKY